單分子檢測共聚焦系統(tǒng)平臺

簡要描述：單分子檢測(SMD)及其分析是一個(gè)考察細(xì)胞系統(tǒng)內(nèi)動力學(xué)變化以及物質(zhì)相互作用的精妙方法。新的Leica TCS單分子檢測系列產(chǎn)品將TCS SP8共聚焦顯微鏡與來自PicoQuant的MD專業(yè)軟件和硬件*地整合在了一個(gè)系統(tǒng)中.

產(chǎn)品型號： TSC 徠卡

所屬分類：顯微鏡大全

更新時(shí)間：2024-03-19

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詳細(xì)說明：

共聚焦顯微鏡

單分子檢測（SMD）及其分析是一個(gè)考察細(xì)胞系統(tǒng)內(nèi)動力學(xué)變化以及物質(zhì)相互作用的精妙方法。新的Leica TCS單分子檢測系列產(chǎn)品將TCS SP8共聚焦顯微鏡與來自PicoQuant的MD專業(yè)軟件和硬件*地整合在了一個(gè)系統(tǒng)中.

這個(gè)技術(shù)成熟的配套是由一個(gè)針對種類繁多的時(shí)間解析技術(shù)，如FCS, FCCS, FLIM 以及上述中的組合如FLCS的靈活平臺組成。整體化的控制及其精妙的接口，為眾多的，為建立模型提供定量參數(shù)的生物物理技術(shù)打開了一扇大門。

為您帶來的優(yōu)勢


由一個(gè)整合的系統(tǒng)控制全部的實(shí)驗(yàn) 通過系統(tǒng)各個(gè)部分的整合，用戶可以通過一個(gè)界面控制全部的實(shí)驗(yàn)。專門的應(yīng)用向?qū)Э焖俸头奖愕靥峁┛芍貜?fù)的實(shí)驗(yàn)結(jié)果。高度的自動化，提供了新的記錄策略。在線SMD數(shù)據(jù)顯示和交互反饋，保證了數(shù)據(jù)質(zhì)量的嚴(yán)密控制。	即時(shí)的光譜和壽命信息－結(jié)合了更強(qiáng)大的能力結(jié)合SP8X與光譜FLIM檢測，構(gòu)成了可調(diào)節(jié)的，無光學(xué)濾片的FLIM系統(tǒng)。通過可調(diào)節(jié)激發(fā)光和優(yōu)化光譜范圍檢測，可以得到zui高質(zhì)量的FLIM數(shù)據(jù)。利用方便的SMD FLIM向?qū)В梢宰詣荧@得FLIM激發(fā)和檢測堆。這對于分離多色樣品的熒光分離以及新染料的特征描述是非常有用的。
快速的結(jié)果－更好的數(shù)據(jù)可靠性在線顯示重要的統(tǒng)計(jì)控制參數(shù)，如相關(guān)曲線、快速FLIM圖像、計(jì)數(shù)率、分子亮度或zui大分子計(jì)數(shù)數(shù)量，能在運(yùn)行FCS或FLIM實(shí)驗(yàn)過程中，連續(xù)評估數(shù)據(jù)質(zhì)量。SMD數(shù)據(jù)可以在測量系列過程中就得到解釋。	在SMD檢測中具有zui大靈活性由于通用的SMD原始數(shù)據(jù)格式，同一個(gè)數(shù)據(jù)文件可以有不同的分析方法。根據(jù)硬件和實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)，相關(guān)和壽命信息可以從一個(gè)單獨(dú)的測量中提取出來，得到有關(guān)樣品的zui大信息。FCS系統(tǒng)可以升級配備FLIM，反之也可以，可以達(dá)到zui大靈活的的FLCS配置。

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由一個(gè)整合的系統(tǒng)控制全部的實(shí)驗(yàn) 通過系統(tǒng)各個(gè)部分的整合，用戶可以通過一個(gè)界面控制全部的實(shí)驗(yàn)。專門的應(yīng)用向?qū)Э焖俸头奖愕靥峁┛芍貜?fù)的實(shí)驗(yàn)結(jié)果。高度的自動化，提供了新的記錄策略。在線SMD數(shù)據(jù)顯示和交互反饋，保證了數(shù)據(jù)質(zhì)量的嚴(yán)密控制。	即時(shí)的光譜和壽命信息－結(jié)合了更強(qiáng)大的能力結(jié)合SP8X與光譜FLIM檢測，構(gòu)成了可調(diào)節(jié)的，無光學(xué)濾片的FLIM系統(tǒng)。通過可調(diào)節(jié)激發(fā)光和優(yōu)化光譜范圍檢測，可以得到zui高質(zhì)量的FLIM數(shù)據(jù)。利用方便的SMD FLIM向?qū)В梢宰詣荧@得FLIM激發(fā)和檢測堆。這對于分離多色樣品的熒光分離以及新染料的特征描述是非常有用的。
快速的結(jié)果－更好的數(shù)據(jù)可靠性在線顯示重要的統(tǒng)計(jì)控制參數(shù)，如相關(guān)曲線、快速FLIM圖像、計(jì)數(shù)率、分子亮度或zui大分子計(jì)數(shù)數(shù)量，能在運(yùn)行FCS或FLIM實(shí)驗(yàn)過程中，連續(xù)評估數(shù)據(jù)質(zhì)量。SMD數(shù)據(jù)可以在測量系列過程中就得到解釋。	在SMD檢測中具有zui大靈活性由于通用的SMD原始數(shù)據(jù)格式，同一個(gè)數(shù)據(jù)文件可以有不同的分析方法。根據(jù)硬件和實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)，相關(guān)和壽命信息可以從一個(gè)單獨(dú)的測量中提取出來，得到有關(guān)樣品的zui大信息。FCS系統(tǒng)可以升級配備FLIM，反之也可以，可以達(dá)到zui大靈活的的FLCS配置。

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